TriStar II



高性能多通道全自動比表面積及孔隙度分析儀系列

TriStar II系列是全自動三站式比表面積和孔隙度分析儀,能夠提高品質控制分析的檢測速度,並提供高準確度、高解析度和數據簡化的功能以滿足絕大多數研發的需要。The TriStar II還有一個氪氣的選項,允許在一個非常低的表面積範圍測量。儀器在分析方法和數據簡化上具有多功能性,讓使用者對特定的應用可分析最佳化。


TriStar特點

TriStar II
TriStar II系列是全自動三站式比表面積和孔隙度分析儀,能夠提高品質控制分析的檢測速度,並提供高準確度、高解析度和資料處理功能以滿足絕大多數研發的需要。

TriStar II PLUS
最先進的TriStar II PLUS儀器適合在質量控制和研究環境中使用,用於需要高通量和最高品質數據的實驗室,除了具備TriStar II所有的功能並增加新的硬體和軟體功能。


  • 三個分析站可以同時或彼此獨立地進行操作,三個樣品BET表面積測量時間少於20分鐘。可使用一台電腦同時操作四台TriStar達到更高通量。
  • 每個分析站配有獨立的感測器,保證三個分析站的分析同時進行。
  • 表面積為0.01 m2/g的樣品可用標準氮系統來測量,使用氪氣選項可以延伸表面積測量至0.001 m2/g。另外可選用氬氣,二氧化碳,和其他非腐蝕性氣體,如丁烷,甲烷,或其它輕質烴作為測量氣體。
  • 用Po埠為標準配備,系統於分析過程中可連續的測量飽和壓力。飽和壓力可以手動輸入,連續地測定,或透過樣品收集。TriStar II提供彈性地控制與微調分析速度與準確性。
  • 當減少分析時間時,常規增量或固定劑量可防止壓力點過頭。
  • 特殊類型的樣品於需要時,自由空間(Free Space)可用測定、計算或人工輸入的方式,提供了最大的靈活性,不需使用氦氣。
  • 配備一個專用的飽和壓力介面,可選多種規格杜瓦瓶與樣品管。
  • 可升級成高真空系統,用於低比表面積以及微孔的測試。
  • 可選擇滿足FDA要求的Confirm 21 CFR Part 11軟體。IQ和OQ認證服務,確保該系統的準確性、可靠性和一致性,保障分析記錄的完整性。
  • 配置液氮液面保溫裝置---液氮等溫夾,以確保整個分析過程中的溫度恆定。
  • 配備了大容量杜瓦瓶,結合專利的液氮等溫夾,保證至少60小時無人操作,最大無上限的連續分析。
  • 儀器套裝軟體含了目前所有的資料處理方法:

              單點和多點BET比表面積,Langmuir比表面積。

              Temkin and Freundlich等溫線分析。

              多種厚度層公式計算的BJH中孔和大孔的孔體積、孔面積對孔徑的分佈。

              多孔體積和用戶指定孔徑範圍內的總孔體積。

              MP方法的微孔孔徑分佈和t-plots、αs-plots得到的微孔總孔體積。

              f-Ratio plots,D-R,D-A。

              H-K法(包括Cheng & Yang校正,Saito & Foley校正)。

              DFT密度函數理論,包括NLDFT等。


應用領域


適用於各種材料的研究與產品測試,包括測量沸石、碳材料、分子篩、二氧化矽、氧化鋁、土壤、黏土、有機金屬化合物骨架結構等各種材料。


TriStar II 3020規格