SediGraph III plus



全自動Χ光沉降粒徑分析儀

新一代的SediGraph III Plus粒徑分析儀將成熟的SediGraph分析技術與先進的檢測儀器功能相結合,提供卓越的重複性、準確性和再現性。SediGraph III Plus透過X射線吸收測量樣品品質,利用國際標準的沉降法測量粒徑,無需建模。此技術已成為全球造紙、陶瓷、磨料等產業的標準。


SediGraph III plus特點

  • 檢測範圍:0.1 到300 μm。
  • 全顆粒度測試,無需建模。
  • 選配的MasterTech 052自動進樣器可提供18個樣品的自動進樣,無需手動操作。
  • 高精度X射線管,保固七年。
  • 使用簡化的泵系統可確保快速方便的維護。
  • 低噪音水平使工作環境更安靜。
  • 根據執行的分析數量,維護提醒會在進行日常維護時提醒使用者。
  • 電腦控制的混合室溫度。
  • 提高重複性和再現性。
  • 具有乙太網連接功能的Windows®操作軟件提供點擊選擇,網絡連接,印表機選擇,剪貼和複製等功能。
  • 多功能報告系統提供各種自定義數據顯示選項,包括以Phi為單位的顆粒沉降速度和粒度。

應用領域
適合於各種無機材料顆粒大小的分析研究,尤其是非金屬礦物。
例如:高嶺土、重鈣、輕鈣、粘土、泥漿等材料的分析。為高嶺土,重鈣,輕鈣粒徑的標準分析儀器。

SediGraph III plus規格