2017年粒徑分析技術研討會

2017年粒徑分析技術研討會邀請函

活動說明 :                                                                                                            
Micromeritics自成立以來,始終保持著在粉粒體特性分析領域的世界領先地位,五十多年來不斷地於發展粉粒體特性表徵分析之創新技術,以滿足用戶對於產品品質管控和日新月異的研究發展需求。
Micromeritics(麥克儀器公司)與明技科學儀器公司為感謝貴用戶長久以來的支持,特舉辦2017年粒徑分析技術研討會,特邀原廠粉粒體分析科學家-Dr. Ren Xu,針對微米至奈米領域之各原理分析技術進行說明,會議全程以中文作詳盡的介紹與應用經驗分享。本活動僅台北場次,名額有限,額滿即止,請及早報名,以免向隅。
意者請於9月15日(周五)前傳真或電子郵件回覆,以便統計參與人數。

主講人背景簡介 :
Dr. Ren Xu  許人良博士
美國麥克儀器公司大中華地區 總經理
麥克默瑞提克(上海)儀器公司 總經理
國際標準化委員會ISO TC24/SC4 專業組長
國際粉體檢測與控制聯合會 理事
中國顆粒學會測試專業委員會 常務理事
上海顆粒學會 理事
上海師範大學教授 (兼任)
華東理工大學教授 (兼任)
瀋陽科學技術學會 特聘專家

舉辦時間:
2017年10/3(三)下午1:00~4:00
舉辦地點:
國立台北科技大學  集思會議中心 (西特廳)
地       址:
台北市忠孝東路三段1號 集思會議中心2樓
本公司於活動期間將有專人於現場提供相關儀器諮詢,
歡迎產學先進予以蒞臨指導。